Caractérisation et observation des surfaces

Microscopie optique et électronique

Bien voir pour mieux contrôler

La microscopie optique permet de visualiser des pièces métalliques ou non avec un zoom important.

Elle autorise ainsi des contrôles géométriques extrêmement précis et révélateurs.

Elle rend également possibles les contrôles des coupes réalisées par nos technologies.

Enfin, la microscopie met en évidence les états de surface obtenus après préparation, traitement ou fonctionnalisation de surface.

Microscope électronique

TJFU dispose d’une panoplie d'outils d'analyse de premier ordre

Leica : Microscope optique
Keyence : Microscope confocal
Hirox : Microscope à balayage électronique

Tous nos matériels de métrologie sont dédiés aux ingénieurs et aux techniciens du laboratoire, mais ils sont aussi accessibles en libre-service (devis à la demande). Bien entendu, une formation préalable sera dispensée par un ingénieur du service.

Microscope à balayage électronique de table

Le MEB Hirox SH 55000P (microscope à balayage électronique) permet l’observation et l’analyse des échantillons en microscopie conventionnelle. De plus, il autorise l’étude de leur géométrie de surface ainsi que de leur composition chimique.

Il est équipé :

Pour l’imagerie : d’un détecteur d’électrons secondaire pour mettre en évidence la topographie, la morphologie et d’un détecteur d’électrons rétrodiffusés pour l’étude du contraste chimique.
Pour l’analyse chimique : d’une microanalyse EDS (Energy dispersive spectrometry) permettant l’analyse chimique élémentaire.

Caractéristiques:

Microscope électronique Hirox
5 axes entièrement motorisés.
Inclinaison de -45 à +90 degrés qui permet une observation parfaite de l’échantillon.
Permet la reconstruction 3D à partir d’images stéréo SE couplées ou de 4 images en électrons rétrodiffusés BSE.
Fort agrandissement : x 150 K.
La taille de la chambre permet d’insérer des échantillons volumineux (diamètre 80 mm, épaisseur 40 mm).
Une caméra CCD fixée au MEB permet de capturer une image du porte-échantillons avec les échantillons. Puis, l‘image est automatiquement chargée dans le logiciel du MEB. Pour se déplacer sur l’échantillon, il suffit de cliquer sur l’image et la table se déplace.